X-RAY XDL és XDLM rétegvastagság­mérők és anyaganalizátorok

X-RAY XDL és XDLM rétegvastagság­mérők és anyaganalizátorok

A FISCHERSCOPE XDL-sorozat műszerei a minőségbiztosításban, az árubeérkezési ellen­őrzésben és a gyártás-felügyeletben kerülnek alkalmazásra.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® és XDLM®

A jól hozzáférhető mérőkamrának köszönhetően alkalmasak komplex geometriájú, nagy vizsgálati munkadarabokhoz is. Az XDL műszerek proporcionális számlálócső- detektorral vannak felszerelve, egyszerű alátámasztással vagy különböző XY-asztalokkal és Z-tengellyel szerelhetők fel, amelyekkel az automatizált sorozatvizsgálatokra is alkalmasak.

Jellegzetes alkalmazások közé tartoznak a galvanikus bevonatolások, valamint a funkcionális rétegek mérése az elektronikai és félvezető iparban. A korrózióvédő-bevonatok és dekoratív rétegek, mint pl. krómbevonat nikkelen/rézen, gyorsan és pontosan meghatározhatók az XDL műszereken. Ezenkívül galvanikus fürdők összetételének analízisére is alkalmas.

A mikro-fókusz csővel felszerelt XDLM típus ideális a kis méretű minták, mint pl. dugaszolható csatlakozók bevonatainak és egyéb elektronikai alkatrészek méréséhez.

Elérhető dokumentumok

Adatok a gyártó honlapján

Helmut Fischer