X-RAY XUV 773 réteg- és anyag­analizátor

X-RAY XUV 773 réteg- és anyag­analizátor

Nagy teljesítményű, röntgenfluoreszcens FISCHERSCOPE X-RAY XUV 773 mérőműszer vákuumkamrával roncsolásmentes anyag­elemzéshez.

FISCHERSCOPE® X-RAY XUV® 773

Az XUV 773 típusú röntgenfluoreszcens mérőrendszer egy nagyobb méretű vákuum mérőkamrával van felszerelve. A nagy felületű szilícium drift-detektorral együtt alacsony, akár kb. 1 keV alatti energiájú floureszcens sugárzást is detektál. Ezzel különösen a nátrium és magnézium elemek valamint a cink, a réz és a nikkel L-sugárzása mérhető. Nagy kollimátorok alkalmazása és a lehetséges számlálási gyakoriság mellett nagyon jó ismétlési pontosságok valamint nagyon alacsony detektálási határok, és ezáltal nagy pontosságú analízis érhető el.

Az XUV típus különösen vékony bevonatok és könnyű elemek roncsolásmentes és nagy pontosságú analíziséhez alkalmas. Akár 24 elem szimultán érzékelése lehetséges a nátriumtól (11) az uránig (92). Az analízis történhet környezeti levegőn, hélium feltöltés alatt vagy vákuumban, így akár az organikus vagy nedves minták is mérhetők.

Az XUV típus ideális mérőrendszer a kutatáshoz és fejlesztéshez, de alkalmas a folyamat-minősítéshez, a minőségbiztosításhoz és gyártás optimalizáláshoz. A jellegzetes alkalmazási területek közé tartozik a funkcionális rétegek analízise az elektronikai és félvezető iparban, pl. vékony alumínium- és szilíciumrétegek szilícium ostyákon. A vákuumban történő mérés által ezeknél a rétegeknél néhány nanométernyi ismétlési pontosság érhető el.

Az XUV típus még olyan általános anyaganalízisekhez is kiváló, mint a törvényszéki vizsgálatok vagy talajminták nyomelem-analízise, de a fotovoltaikus iparban illetve arany és ékszerek analíziséhez is használható. Az ékszerek mátrixainak analízise által azok fajtája, származása és ezzel a valódisága és értéke is meghatározható.

  

Elérhető dokumentumok

Adatok a gyártó honlapján

Helmut Fischer