Hirox NPS – Nano Point Scanner

Hirox NPS – Nano Point Scanner

A méréstechnika és a mikroszkópia találkozása. Könnyű kezelhetőség, mérés és jegyzőkönyvkészítés. Magas felbontású 3D szkennelés.

Ajánlott alkalmazási területek:

  • dombornyomott minták és biztonsági nyomtatások pontos vizsgálata
  • érdességmérés acélfelületeken
  • mikro-elektronikai alkatrészek és felvezetők vizsgálata

Az NPS konstrukció egyedi előnyei:

  • gyors, érintésmentes profilozás
  • magas felbontású 3D szkennelés
  • XYZ mérések
  • bármilyen felületen alkalmazható
  • Hybrid digitális mikroszkópia: NPS + RH-2000 mikroszkóp
  • egyszerű riportolási lehetőségek a Hirox Map funkcióval

Metrológiai mérési funkciók:

  • távolság
  • térfogat
  • érdesség
  • hullámosság
  • kerekdedség
  • egyenletesség
  • koplanaritás (egysíkúság)
  • deformáció
  • topográfia
  • tribológia

 

Olvassa el a gyártó céget bemutató cikkünket!

 

Kérdés, érdeklődés esetén keresse kollégáinkat bizalommal!

Kapcsolat: Kelenföldi Brigitta vagy Majercsák László

Elérhetőségek: 06 1 420 5883 vagy info@grimas.hu

Elérhető dokumentumok

Adatok a gyártó honlapján

Hirox